Im Zuge der Forschungs- und Entwicklungsarbeit der Langer EMV-Technik GmbH wurde Anfang 2020 eine neue IC-Probegeneration realisiert, welche mit einem flexiblen Federkontakt als Spitze und visuell überprüfbarer Kontakterkennung ausgestattet ist. Dies ermöglicht nicht nur eine deutlich präzisere Kontaktierung mit dem IC-Pin, sondern ebenfalls Messungen von ICs in BGA-Gehäusen und einen unkomplizierten und schnellen Austausch der Spitzen.