LANGER EMV-Technik GmbH
28.07.2020 01:07
Untersuchungen der Störfestigkeit an integrierten Schaltkreisen (ICs) und Leiterplatten sind wichtig zur entwicklungsbegleitenden Prüfung von Bauelementen und Baugruppen.
Die Langer EMV-Technik GmbH bietet mit den Magnetfeldquellen der Sets H4-IC und H5-IC spezialisierte Werkzeuge zur kleinräumigen Einspeisung von Burstimpulsen in ICs, Leitungsstrukturen und Baugruppen an.
Die EFT/Burst Magnetfeldquellen zeichnen sich durch eine hohe erreichbare Feldstärke von bis zu 200 mT aus. Damit können Schaltkreise auch durch ihr Gehäuse hindurch relevant beaufschlagt werden. Die Reaktionen des Schaltkreises ermöglichen dessen Analyse bzgl. der Störfestigkeit und Signalsicherheit. Die Beaufschlagung hinsichtlich der Sicherheit eines Schaltkreises kann während verschiedener Funktionsstadien des Schaltkreises erfolgen (z.B. beim Boot-Vorgang oder während Schaltvorgängen). Der Frequenzgang der EFT/Burst Magnetfeldquellen ist für die Übertragung von Normpulsen eines Burstgenerators (nach IEC 61000-4-4) optimiert.
Die Feldquelle BS 06DU-s des Sets H5-IC erreicht an ihrer Spitze eine maximale Flussdichte von ca. 150 mT. Die Feldlinien werden bedingt durch den Aufbau der Sonde von der Feldquellenspitze abgestoßen und erreichen deshalb auch in größerem Abstand eine hohe Wirksamkeit. Die Magnetfelder der BS 06DU-s umwirbeln die unter der Spitze liegenden Leitungsnetze, sodass diese Feldquelle besonders für das Einkoppeln auf kleinste Leiterzüge als auch auf Bonddrähte verwendet werden kann.
Die Feldquelle BS 06DB-s des Sets H4-IC erreicht an ihrer Spitze eine magnetische Flussdichte von ca. 200 mT. Das Feldlinienbündel tritt senkrecht aus der Feldquellenspitze aus und schließt sich im nahen Umfeld der Sonde. Somit können mit dieser Feldquelle besonders horizontale Schleifenstrukturen im Schaltkreis als auch in Baugruppen aufgespürt werden.
Die EFT/Burst Magnetfeldquellen BS 06DU-s und BS 06DB-s sind zur vergleichenden Messung kalibriert und können entsprechend ihrer Messaufgabe von Hand oder Mover (z.B. ICS 105 IC Langer Scanner) geführt werden.
10.09.2020 05:25
Automatische EMV-Messungen an ICs dank neuartiger Kontaktspitzen