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LANGER EMV-Technik GmbH

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28.07.2020 01:07

Kleinräumige Einspeisung von Burstimpulsen mit kalibrierten EFT/Burst Magnetfeldquellen

Untersuchungen der Störfestigkeit an integrierten Schaltkreisen (ICs) und Leiterplatten sind wichtig zur entwicklungsbegleitenden Prüfung von Bauelementen und Baugruppen.

Die Langer EMV-Technik GmbH bietet mit den Magnetfeldquellen der Sets H4-IC und H5-IC spezialisierte Werkzeuge zur kleinräumigen Einspeisung von Burstimpulsen in ICs, Leitungsstrukturen und Baugruppen an.

Die EFT/Burst Magnetfeldquellen zeichnen sich durch eine hohe erreichbare Feldstärke von bis zu 200 mT aus. Damit können Schaltkreise auch durch ihr Gehäuse hindurch relevant beaufschlagt werden. Die Reaktionen des Schaltkreises ermöglichen dessen Analyse bzgl. der Störfestigkeit und Signalsicherheit. Die Beaufschlagung hinsichtlich der Sicherheit eines Schaltkreises kann während verschiedener Funktionsstadien des Schaltkreises erfolgen (z.B. beim Boot-Vorgang oder während Schaltvorgängen). Der Frequenzgang der EFT/Burst Magnetfeldquellen ist für die Übertragung von Normpulsen eines Burstgenerators (nach IEC 61000-4-4) optimiert.

Die Feldquelle BS 06DU-s des Sets H5-IC erreicht an ihrer Spitze eine maximale Flussdichte von ca. 150 mT. Die Feldlinien werden bedingt durch den Aufbau der Sonde von der Feldquellenspitze abgestoßen und erreichen deshalb auch in größerem Abstand eine hohe Wirksamkeit. Die Magnetfelder der BS 06DU-s umwirbeln die unter der Spitze liegenden Leitungsnetze, sodass diese Feldquelle besonders für das Einkoppeln auf kleinste Leiterzüge als auch auf Bonddrähte verwendet werden kann.

Die Feldquelle BS 06DB-s des Sets H4-IC erreicht an ihrer Spitze eine magnetische Flussdichte von ca. 200 mT. Das Feldlinienbündel tritt senkrecht aus der Feldquellenspitze aus und schließt sich im nahen Umfeld der Sonde. Somit können mit dieser Feldquelle besonders horizontale Schleifenstrukturen im Schaltkreis als auch in Baugruppen aufgespürt werden.

Die EFT/Burst Magnetfeldquellen BS 06DU-s und BS 06DB-s sind zur vergleichenden Messung kalibriert und können entsprechend ihrer Messaufgabe von Hand oder Mover (z.B. ICS 105 IC Langer Scanner) geführt werden.

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Im Zuge der Forschungs- und Entwicklungsarbeit der Langer EMV-Technik GmbH wurde Anfang 2020 eine neue IC-Probegeneration realisiert, welche mit einem flexiblen Federkontakt als Spitze und visuell überprüfbarer Kontakterkennung ausgestattet ist. Dies ermöglicht nicht nur eine deutlich präzisere Kontaktierung mit dem IC-Pin, sondern ebenfalls Messungen von ICs in BGA-Gehäusen und einen unkomplizierten und schnellen Austausch der Spitzen.