Produktanfrage
Das Entwicklungssystem Störfestigkeit Typ E1 ermöglicht, optimale EMV Eigenschaften von Baugruppen in der finalen Entwicklungsphase zu erreichen. Mit dem E1 kann der Entwickler Störstrompfad analysieren, mit Feldquellen Fehlerorte im Layout lokalisieren, gleichzeitig Logiksignale des Prüflings überwachen sowie Burst-Magnetfelder messen.