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Carl Zeiss IQS Deutschland GmbH

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31.07.2024 01:07

ZEISS O-INSPECT duo

Mikroskop und Messgerät in einem

ZEISS O-INSPECT duo bietet zwei Technologien in einer Maschine:

Große Werkstücke wie Leiterplatten, Brennstoffzellen oder Batterien können sowohl messtechnisch überprüft als auch in hoher Auflösung ohne Zerschneiden inspiziert werden. Die Kombination aus 3D-Messtechnik und mikroskopischer Inspektion steigert die Effizienz und spart Platz in Qualitätslaboren. ZEISS O-INSPECT duo ist in der Größe 8/6/3 verfügbar.

2-in-1: Mikroskop und Messgerät in einer Maschine
Schnelle und präzise 3D-Messungen – optisch und taktil
Hochauflösende Optik mit zusätzlicher Inspektions-Software ZEISS ZEN core
 
 

Das erste Multi-Technologie System von ZEISS
ZEISS O-INSPECT duo deckt als Messmikroskop zwei essenzielle Anwendungsgebiete in der Qualitätssicherung ab: Das präzise Messen und das hochauflösende Inspizieren großer, oder vieler kleiner Bauteile. Das Gerät wurde zudem speziell für Anwendungen entwickelt, bei denen die Kombination von dreidimensionaler Messung und Inspektion notwendig wird – einschließlich Segmentierung, Stitching und Bildverarbeitung am Farbbild. Dafür wird in Qualitätslaboren statt Messgerät und Mikroskop nun lediglich eine Maschine benötigt; das spart Platz und Systemkosten. Erfahren Sie, welche weiteren Vorteile das multifunktionale Gerät für die jeweiligen Bereiche mitbringt.​


MESSTECHNIK

Hochpräzise Messungen – taktil und optisch
Hohe Genauigkeit für flache und empfindliche Werkstücke
ZEISS O-INSPECT duo ist ein Multisensor-Messgerät und überzeugt durch eine hochauflösende Optik gepaart mit dem taktilen Scanning Sensor ZEISS VAST XXT. Der taktile Sensor ermöglicht schnelle und präzise 3D-Messungen, indem eine große Anzahl von Messpunkten in einer einzigen Bewegung aufgenommen wird. ​

Empfindliche Bauteile können mit ZEISS O-INSPECT duo berührungslos gemessen werden – und das mit exzellenter Genauigkeit und einer deutlichen Reduzierung der Messzeit durch ZEISS VAST probing (ZVP). Möglich ist das dank der hohen Auflösung bei einem sehr großen Arbeitsabstand nicht nur für flache Werkstücke oder Proben.

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