ZEISS O-INSPECT duo bietet zwei Technologien in einer Maschine: Große Werkstücke wie Leiterplatten, Brennstoffzellen oder Batterien können sowohl messtechnisch überprüft als auch in hoher Auflösung ohne Zerschneiden inspiziert werden. Die Kombination aus 3D-Messtechnik und mikroskopischer Inspektion steigert die Effizienz und spart Platz in Qualitätslaboren. ZEISS O-INSPECT duo ist in der Größe 8/6/3 verfügbar.​

 

• 2-in-1: Mikroskop und Messgerät in einer Maschine​
• Schnelle und präzise 3D-Messungen – optisch und taktil​
• Hochauflösende Optik mit zusätzlicher Inspektions-Software ZEISS ZEN core​

 
Das erste Multi-Technologie System von ZEISS
ZEISS O-INSPECT duo deckt als Messmikroskop zwei essenzielle Anwendungsgebiete in der Qualitätssicherung ab: Das präzise Messen und das hochauflösende Inspizieren großer, oder vieler kleiner Bauteile. Das Gerät wurde zudem speziell für Anwendungen entwickelt, bei denen die Kombination von dreidimensionaler Messung und Inspektion notwendig wird – einschließlich Segmentierung, Stitching und Bildverarbeitung am Farbbild. Dafür wird in Qualitätslaboren statt Messgerät und Mikroskop nun lediglich eine Maschine benötigt; das spart Platz und Systemkosten. Erfahren Sie, welche weiteren Vorteile das multifunktionale Gerät für die jeweiligen Bereiche mitbringt.​

MESSTECHNIK​
Hochpräzise Messungen – taktil und optisch​
Hohe Genauigkeit für flache und empfindliche Werkstücke​
ZEISS O-INSPECT duo ist ein Multisensor-Messgerät und überzeugt durch eine hochauflösende Optik gepaart mit dem taktilen Scanning Sensor ZEISS VAST XXT. Der taktile Sensor ermöglicht schnelle und präzise 3D-Messungen, indem eine große Anzahl von Messpunkten in einer einzigen Bewegung aufgenommen wird. ​

Empfindliche Bauteile können mit ZEISS O-INSPECT duo berührungslos gemessen werden – und das mit exzellenter Genauigkeit und einer deutlichen Reduzierung der Messzeit durch ZEISS VAST probing (ZVP). Möglich ist das dank der hohen Auflösung bei einem sehr großen Arbeitsabstand nicht nur für flache Werkstücke oder Proben.

Oberflächeninspektion und Messung an einer Maschine​
Heute KMG, morgen Mikroskop​
Bei vielen Werkstücken ist neben der Prüfung von Maß, Form und Lage auch eine Oberflächeninspektion notwendig. Wo bisher zwei separate Geräte für Messung und Inspektion eingesetzt wurden, bietet ZEISS O-INSPECT duo nun eine 2-in-1 Lösung. Durch die intuitive Bedienung des Geräts und den hochauflösenden 5 MP Discovery.V12 scout 160 c Farbkamerasensor mit 12-fach Zoom Objektiv sind nun auch Inspektionsaufgaben am Messgerät abbildbar. Neben der gewohnten Verwendung mit ZEISS CALYPSO kann die Maschine für Mikroskopie-Aufgaben auch mit der Software ZEISS ZEN core verwendet werden. ​