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amtec Analysenmesstechnik GmbH

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  • DIN EN ISO 9001:2008

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Inline Röntgen-Fluoreszenzspektrometer (XRF 940 V) von amtec Analysenmesstechnik GmbH

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XRF 940V Gerätefamilie zur Messung an Beschichtungen im Vakuum
Messaufgaben:
  • Analyse von Mehrfachschichten, Schichtsystemen,Legierungsschichten
  • Elemente aus Periodensystem von (Na), Mg bis U
  • Schichtdickenbereich nm bis µm
  • Schichtzusammensetzung %, ‰

Anwendungsfelder:
  • Solarzellen wie CIS, CIGS, CdTe u. a.
  • Brennstoffzellen
  • Korrosionsschutz
  • Kontaktbeschichtung
  • Magnetschichten
  • Barriere-Schichten

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